一、新世紀(jì)24款主板測試報告 我們?nèi)绾螠y試主板(論文文獻綜述)
黃建煌[1](2017)在《基于通用自動測試平臺的機載應(yīng)急電源自動測試系統(tǒng)研發(fā)》文中研究指明本論文工作依托于實驗室與廣州某飛機維修公司合作的應(yīng)急電源自動測試項目。機載應(yīng)急電源是保障飛機安全的重要設(shè)備,需要一套高效的測試系統(tǒng)對其進行檢測。傳統(tǒng)人工測試效率和精度都較低,而引進國外自動測試系統(tǒng)又存在價格高昂、兼容性不足等問題。為此,本文設(shè)計并實現(xiàn)了一套能夠高效地對BPS、EPS型號應(yīng)急電源進行自動測試的系統(tǒng),從而達到提高效率、降低成本的目的。本論文具體工作概括如下:(1)由于公司原有通用測試平臺存在直流電源功率不足、測試軟件功能簡單等問題,無法滿足應(yīng)急電源的測試需求,本文從軟件和硬件兩方面對平臺進行擴展。硬件上添加了繼電器開關(guān)模塊、高功率直流電源和高速采集板卡等設(shè)備并開發(fā)相應(yīng)的平臺驅(qū)動;軟件上使用C++嵌套MATLAB的方法設(shè)計了采集板卡數(shù)據(jù)繪制功能,使用SQLite數(shù)據(jù)庫保存診斷結(jié)果,實現(xiàn)了專家診斷記錄功能;(2)BPS型號應(yīng)急電源自動測試的實現(xiàn)。首先在硬件上根據(jù)ARINC 608A標(biāo)準(zhǔn)制作應(yīng)急電源測試適配器,包括開關(guān)邏輯測試電路和蓄電池測試電路設(shè)計。接著設(shè)計了自動測試流程并在軟件平臺上開發(fā)自動測試腳本,最后上電調(diào)試并給出測試結(jié)果報告。其中硬件設(shè)計上,開關(guān)邏輯測試電路使用推式電磁鐵和編程開關(guān)代替了手工操作;蓄電池測試電路設(shè)計了放大電路來模擬點火裝置,同時使用高速采集板卡代替人工采集充放電數(shù)據(jù)。實現(xiàn)了全自動測試,極大提高了測試效率;(3)EPS型號應(yīng)急電源自動測試的實現(xiàn)。實現(xiàn)過程與BPS型號類似,首先在硬件上設(shè)計了7A恒流負載電路來測試應(yīng)急電源的供電穩(wěn)定性,并設(shè)計了蓄電池模擬電路來測試充電智能調(diào)節(jié)功能。然后設(shè)計了EPS應(yīng)急電源的測試流程并在軟件平臺上開發(fā)自動測試腳本,最后上電調(diào)試并給出測試結(jié)果報告。本論文設(shè)計過程遵循ABBET標(biāo)準(zhǔn),開發(fā)完成的測試系統(tǒng)具有較高的通用性和可移植性,在測試過程中只需要極少的人工參與即可完成完整的測試,最終結(jié)果結(jié)合可視化界面展示,直觀清晰,同時能夠保存歷史診斷記錄,減少了測試人員的學(xué)習(xí)成本。該系統(tǒng)滿足實際工程開發(fā)要求,并已投入實際測試使用。
劉建云,趙青,寧雷[2](2001)在《讀者信任的主板品牌》文中指出主板是電腦的基本組成部分。最近,PCShopper雜志社通過發(fā)布大量的讀者調(diào)查問卷,總結(jié)目前讀者對各種品牌主板的滿意和認(rèn)知程序,評選出“讀者信任的主板品牌”。
葉明穎,韓鴻慶[3](2000)在《AMD新一代微處理器——Duron、新速龍》文中指出在AMD的Athlon微處理器在個人電腦市場中大放異彩之后,AMD新一代接替K6-2、K6-Ⅲ的Duron,以及Athlon的微處理器的新一代產(chǎn)品新速龍,在6月29日正式與世人見面了。在這次的新品評測特集中,編輯部便為各位讀者借測了新款的微處理器及主板工程樣品,并藉由全方面的性能檢測,讓讀者在對這兩款微處理器的規(guī)格以及性能方面,能夠有更進一步的了解。
天域空間[4](2000)在《IT簡聞》文中研究指明
二、新世紀(jì)24款主板測試報告 我們?nèi)绾螠y試主板(論文開題報告)
(1)論文研究背景及目的
此處內(nèi)容要求:
首先簡單簡介論文所研究問題的基本概念和背景,再而簡單明了地指出論文所要研究解決的具體問題,并提出你的論文準(zhǔn)備的觀點或解決方法。
寫法范例:
本文主要提出一款精簡64位RISC處理器存儲管理單元結(jié)構(gòu)并詳細分析其設(shè)計過程。在該MMU結(jié)構(gòu)中,TLB采用叁個分離的TLB,TLB采用基于內(nèi)容查找的相聯(lián)存儲器并行查找,支持粗粒度為64KB和細粒度為4KB兩種頁面大小,采用多級分層頁表結(jié)構(gòu)映射地址空間,并詳細論述了四級頁表轉(zhuǎn)換過程,TLB結(jié)構(gòu)組織等。該MMU結(jié)構(gòu)將作為該處理器存儲系統(tǒng)實現(xiàn)的一個重要組成部分。
(2)本文研究方法
調(diào)查法:該方法是有目的、有系統(tǒng)的搜集有關(guān)研究對象的具體信息。
觀察法:用自己的感官和輔助工具直接觀察研究對象從而得到有關(guān)信息。
實驗法:通過主支變革、控制研究對象來發(fā)現(xiàn)與確認(rèn)事物間的因果關(guān)系。
文獻研究法:通過調(diào)查文獻來獲得資料,從而全面的、正確的了解掌握研究方法。
實證研究法:依據(jù)現(xiàn)有的科學(xué)理論和實踐的需要提出設(shè)計。
定性分析法:對研究對象進行“質(zhì)”的方面的研究,這個方法需要計算的數(shù)據(jù)較少。
定量分析法:通過具體的數(shù)字,使人們對研究對象的認(rèn)識進一步精確化。
跨學(xué)科研究法:運用多學(xué)科的理論、方法和成果從整體上對某一課題進行研究。
功能分析法:這是社會科學(xué)用來分析社會現(xiàn)象的一種方法,從某一功能出發(fā)研究多個方面的影響。
模擬法:通過創(chuàng)設(shè)一個與原型相似的模型來間接研究原型某種特性的一種形容方法。
三、新世紀(jì)24款主板測試報告 我們?nèi)绾螠y試主板(論文提綱范文)
(1)基于通用自動測試平臺的機載應(yīng)急電源自動測試系統(tǒng)研發(fā)(論文提綱范文)
摘要 |
Abstract |
縮寫詞表 |
第一章 緒論 |
1.1 課題背景 |
1.2 機載設(shè)備測試的發(fā)展歷史與研究現(xiàn)狀 |
1.2.1 機載設(shè)備測試的發(fā)展歷史 |
1.2.2 國內(nèi)外研究現(xiàn)狀 |
1.3 目前應(yīng)急電源測試存在的問題 |
1.4 課題目的及任務(wù) |
1.5 論文結(jié)構(gòu) |
1.6 本章小結(jié) |
第二章 應(yīng)急電源自動測試相關(guān)研究 |
2.1 應(yīng)急電源概述 |
2.1.1 應(yīng)急電源組成和工作原理 |
2.1.2 應(yīng)急電源測試流程 |
2.2 自動測試系統(tǒng)設(shè)計標(biāo)準(zhǔn) |
2.2.1 硬件設(shè)計標(biāo)準(zhǔn)ARINC 608A |
2.2.2 COST技術(shù)與ABBET標(biāo)準(zhǔn) |
2.3 本章小結(jié) |
第三章 通用自動測試平臺擴展開發(fā) |
3.1 總體架構(gòu) |
3.2 硬件平臺 |
3.2.1 硬件平臺框架圖 |
3.2.2 已有硬件設(shè)備 |
3.2.3 新增設(shè)備及驅(qū)動編寫 |
3.3 軟件平臺 |
3.3.1 軟件平臺整體框架 |
3.3.2 軟件功能擴展 |
3.4 本章小結(jié) |
第四章 BPS型號應(yīng)急電源自動測試實現(xiàn) |
4.1 BPS型號應(yīng)急電源簡介 |
4.2 自動測試設(shè)計方案 |
4.3 硬件設(shè)計 |
4.3.1 開關(guān)邏輯測試電路設(shè)計 |
4.3.2 蓄電池測試電路設(shè)計 |
4.4 測試程序集TPS設(shè)計 |
4.4.1 外部接地開關(guān)測試 |
4.4.2 TEST按鈕測試 |
4.4.3 電池低電量自動切斷與復(fù)位測試 |
4.4.4 電池點火測試 |
4.4.5 電池充放電測試 |
4.5 測試結(jié)果 |
4.6 本章小結(jié) |
第五章 EPS型號應(yīng)急電源自動測試實現(xiàn) |
5.1 EPS型號應(yīng)急電源簡介 |
5.2 硬件設(shè)計 |
5.3.1 7A恒流負載電路 |
5.3.2 蓄電池模擬電路 |
5.3 測試程序集TPS設(shè)計 |
5.4.1 輸出模式測試 |
5.4.2 充電智能調(diào)節(jié)測試 |
5.4.3 蓄電池充放電測試 |
5.4 測試結(jié)果 |
5.5 本章小結(jié) |
總結(jié)與展望 |
參考文獻 |
附錄 |
1. BPS型號應(yīng)急電源自動測試腳本代碼 |
2. EPS型號應(yīng)急電源自動測試腳本代碼 |
攻讀碩士學(xué)位期間取得的研究成果 |
致謝 |
附件 |
四、新世紀(jì)24款主板測試報告 我們?nèi)绾螠y試主板(論文參考文獻)
- [1]基于通用自動測試平臺的機載應(yīng)急電源自動測試系統(tǒng)研發(fā)[D]. 黃建煌. 華南理工大學(xué), 2017(07)
- [2]讀者信任的主板品牌[J]. 劉建云,趙青,寧雷. 電子測試, 2001(11)
- [3]AMD新一代微處理器——Duron、新速龍[J]. 葉明穎,韓鴻慶. 電子測試, 2000(08)
- [4]IT簡聞[J]. 天域空間. 電腦, 2000(02)
標(biāo)簽:應(yīng)急電源論文; 主板論文;