一、ATX機(jī)箱的規(guī)格介紹與選購(gòu)要點(diǎn)（論文文獻(xiàn)綜述）
張樹堯[1]（2019）在《基于水冷散熱的電腦機(jī)箱造型設(shè)計(jì)》文中研究表明當(dāng)下信息化的生活加大了電子產(chǎn)品硬件的工作負(fù)荷,電腦有著輕量化、高性能的趨勢(shì),而其發(fā)熱問題始終無法避免。如今,散熱技術(shù)多種多樣,而水冷有著較好的散熱效率和較高的使用舒適度,成為了當(dāng)下主流散熱方式之一。水冷模塊的管道交錯(cuò)、連接,經(jīng)過設(shè)計(jì)者的精心組織,安裝在機(jī)箱上,形成接近后現(xiàn)代主義的造型風(fēng)格。與當(dāng)下同質(zhì)化較為嚴(yán)重的現(xiàn)代主義的造型風(fēng)格相比,顯得更為新穎美觀,也更容易給用戶帶來視覺上的沖擊。水冷的興起,把臺(tái)式電腦機(jī)箱從一件普通的功能性物件轉(zhuǎn)變?yōu)榱司碌乃囆g(shù)品。本文將會(huì)從水冷散熱和電腦的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu)入手,對(duì)現(xiàn)有的電腦配件、水冷模塊、機(jī)箱形式做出調(diào)研,找到電腦的重要發(fā)熱部件,分析出現(xiàn)有支持水冷的機(jī)箱的優(yōu)缺點(diǎn)。然后對(duì)臺(tái)式機(jī)的用戶做出問卷調(diào)研,得出機(jī)箱功能和形式上的需求,即迷你化、拓展性和美觀性,并根據(jù)市場(chǎng)調(diào)研得出設(shè)計(jì)方向。整個(gè)設(shè)計(jì)將會(huì)以水道板的方式為基礎(chǔ),確定機(jī)箱內(nèi)部元件的布局,設(shè)計(jì)出水冷模塊,形成機(jī)箱的大體基調(diào)。之后對(duì)已有的水冷部件做出拓展性、防誤性和美觀性的改造,然后將所有設(shè)計(jì)元件相互整合。最后調(diào)整產(chǎn)品造型,以產(chǎn)品語義的方式告訴用戶該水冷方案不但美觀、散熱效率高,而且具有足夠的安全性。整個(gè)研究的目標(biāo)人群最終定位在青年的游戲玩家,目的在于探索如何在保證機(jī)箱迷你化、美觀化的同時(shí),也讓機(jī)箱具有一定的防誤性和拓展性。以滿足不同用戶的不同需求,給用戶帶來更舒適的使用體驗(yàn)。
蘇丹[2]（2018）在《靜電紡絲設(shè)備設(shè)計(jì)與納米纖維膜的制備》文中研究說明納米纖維膜在當(dāng)今生產(chǎn)生活中應(yīng)用廣泛,例如水凈化領(lǐng)域、防腐密封領(lǐng)域和吸附領(lǐng)域等。靜電紡絲是當(dāng)今制備納米纖維膜的有效手段。全球市場(chǎng)已有不少的靜電紡絲設(shè)備供應(yīng)與制造商,但中國(guó)國(guó)內(nèi)的市場(chǎng)還遠(yuǎn)未飽和。國(guó)內(nèi)外供應(yīng)商提供的靜電紡絲設(shè)備在中低檔價(jià)格段選擇較少。本文設(shè)計(jì)了一款中低檔成本的靜電紡絲設(shè)備,該設(shè)備能滿足實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的靜電紡絲科研需求和小批量的紡絲生產(chǎn)。本文中的設(shè)備介紹主要分為機(jī)械設(shè)計(jì)、電路設(shè)計(jì)和程序設(shè)計(jì)三大部分。機(jī)械設(shè)計(jì)包括主要運(yùn)動(dòng)模塊和機(jī)箱等的設(shè)計(jì)。電路設(shè)計(jì)包括各電子元器件的選型,主控板的選型與電路板繪制,電路布線和機(jī)箱熱仿真等。程序設(shè)計(jì)部分介紹了本設(shè)備控制程序的主要代碼。隨后,利用本文設(shè)計(jì)的設(shè)備制備了聚偏氟乙烯三氟乙烯（P（VDF-TrFE））摻雜鋯鈦酸鉛（PZT）壓電陶瓷復(fù)合材料的納米纖維膜。最后,研究了摻雜了不同質(zhì)量分?jǐn)?shù)的鋯鈦酸鉛壓電陶瓷的納米纖維膜的形貌特征、拉伸力學(xué)性能、介電特性和壓電特性。結(jié)果表明,本文設(shè)計(jì)的靜電紡絲設(shè)備能有效制備具有良好效用的復(fù)合材料納米纖維膜。PZT質(zhì)量分?jǐn)?shù)為4%的納米纖維膜的形貌質(zhì)量最好。靜電紡絲制備的納米纖維直徑會(huì)隨著紡絲溶液導(dǎo)電性的增大而減小。增大PZT質(zhì)量分?jǐn)?shù)可提高紡絲溶液導(dǎo)電性,但過高的PZT質(zhì)量分?jǐn)?shù)會(huì)導(dǎo)致納米纖維中出現(xiàn)分布不均勻的PZT粉末顆粒。在拉伸力學(xué)性能測(cè)試中,PZT質(zhì)量分?jǐn)?shù)4%的納米纖維膜表現(xiàn)最佳。隨著PZT質(zhì)量分?jǐn)?shù)的增加,紡絲溶液內(nèi)部的電荷密度會(huì)增加,溶液導(dǎo)電性會(huì)提高,制備的納米纖維絲直徑更小,直徑一致性更高,納米纖維膜表現(xiàn)出了更好的拉伸力學(xué)性能。PZT質(zhì)量分?jǐn)?shù)繼續(xù)增加,納米纖維膜的拉伸強(qiáng)度和斷裂伸長(zhǎng)率反而下降。原因是摻雜了過高質(zhì)量分?jǐn)?shù)PZT粉末,納米纖維內(nèi)部出現(xiàn)大量分布不均勻的PZT粉末顆粒,致使其直徑一致性下降,且納米纖維膜變硬變脆。制備的納米纖維膜介電常數(shù)隨著PZT質(zhì)量分?jǐn)?shù)的增加先上升后下降。PZT質(zhì)量分?jǐn)?shù)為從0上升為2%的時(shí)候,納米纖維膜的介電常數(shù)有一個(gè)小小的躍升,其原因推測(cè)可能有兩個(gè)。其一,在PZT與P（VDF-TrFE）之間發(fā)生了界面極化;其二,單純由于具有高介電常數(shù)PZT的加入提升了復(fù)合材料納米纖維膜的介電常數(shù)。PZT質(zhì)量分?jǐn)?shù)繼續(xù)增加時(shí),納米纖維膜的介電常數(shù)反而有所下降。原因是PZT質(zhì)量分?jǐn)?shù)的上升使得納米纖維的硬度上升,使其可承受更大的重量,加大了納米纖維膜內(nèi)部的空隙,造成空氣含量增加,從而拉低了納米纖維膜的介電常數(shù)。XRD掃描的結(jié)果顯示,本設(shè)備制備的P（VDF-TrFE）摻雜PZT的納米纖維具有β相的特征波峰,可表現(xiàn)出壓電效應(yīng)。但其特征波峰強(qiáng)度在PZT質(zhì)量分?jǐn)?shù)為0時(shí)最大,到4%后變得不明顯,同時(shí)PZT的特征波峰開始急劇增大。
胡健強(qiáng)[3]（2017）在《EAST托卡馬克上的先進(jìn)集成微波反射計(jì)診斷系統(tǒng)》文中指出微波診斷系統(tǒng)作為一種無擾的測(cè)量技術(shù),在等離子體診斷中具有重要的意義。微波反射計(jì)作為常用的一種微波診斷系統(tǒng),可以高時(shí)空分辨地測(cè)量聚變等離子體的多個(gè)參數(shù),越來越多地應(yīng)用在了現(xiàn)代主流的各個(gè)磁約束聚變裝置上。本文的主要工作就是圍繞在中科院等離子體物理研究所的EAST （Experimental Advanced Superconducting Tokamak）托卡馬克上的先進(jìn)綜合微波反射計(jì)系統(tǒng)的測(cè)量原理、模擬設(shè)計(jì)、搭建測(cè)試、數(shù)據(jù)處理以及托卡馬克物理實(shí)驗(yàn)測(cè)量結(jié)果等內(nèi)容展開。EAST托卡馬克上的先進(jìn)綜合微波反射計(jì)系統(tǒng)主要由8道多普勒背向散射儀（Doppler Backscattering System, DBS）和2道的電子密度剖面反射計(jì)這兩個(gè)子系統(tǒng)有機(jī)結(jié)合而成。兩套系統(tǒng)共用一套準(zhǔn)光學(xué)前端,能夠互為補(bǔ)充地為EAST的等離子體放電實(shí)驗(yàn)中提供如電子密度分布剖面、等離子體極向旋轉(zhuǎn)速度分布剖面、徑向電場(chǎng)的徑向分布、湍流強(qiáng)度徑向分布以及湍流波數(shù)譜等多個(gè)物理參量的高速高分辨率的測(cè)量,可以進(jìn)行如輸運(yùn)與約束機(jī)理以及高約束模和低約束模之間的轉(zhuǎn)換（L-H轉(zhuǎn)換）機(jī)理等物理問題的研究和湍流模式鑒別。在數(shù)據(jù)處理方法上,本論文從理論、實(shí)驗(yàn)和數(shù)值模擬等方面進(jìn)行了詳細(xì)的討論。對(duì)于剖面反射計(jì)系統(tǒng),文中討論了密度反演的方法,以及密度漲落、相對(duì)論效應(yīng)、誤差場(chǎng)、多普勒效應(yīng)、極化角耦合等的影響以及與密度零點(diǎn)相關(guān)的注意事項(xiàng)。對(duì)于多普勒反射計(jì)系統(tǒng),文中介紹了幾種求頻移的和模分析方法,討論了模分析中采樣時(shí)鐘等問題。并從模擬上給出了 SOL區(qū)對(duì)測(cè)量光路的影響。在本論文的主體部分,詳細(xì)地介紹了 EAST上的先進(jìn)集成反射計(jì)系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、搭建、校準(zhǔn)和測(cè)試的過程。該系統(tǒng)包括共用的準(zhǔn)光學(xué)收發(fā)前端、雙波段（Q-band,33-50GHz 和 V-band,50-75GHz）的雙極化（O-mode 和 X-mode）連續(xù)波頻率調(diào)制FMCW超快掃頻單發(fā)單收零差式剖面反射計(jì)以及可以同時(shí)測(cè)量8個(gè)頻率位置（55,57.5,60,62.5, 67.5,70,72.5和75GHz）的單發(fā)單收外差式多普勒背向散射儀系統(tǒng)（8道DBS）。此外,還詳細(xì)介紹了配套的子系統(tǒng):數(shù)據(jù)采集存儲(chǔ)系統(tǒng)、保護(hù)系統(tǒng)、溫控系統(tǒng)、反射鏡驅(qū)動(dòng)和監(jiān)測(cè)系統(tǒng)、供電系統(tǒng)等子系統(tǒng)。并給出了各子系統(tǒng)的設(shè)計(jì)、校準(zhǔn)和測(cè)試的過程,特別是準(zhǔn)光學(xué)測(cè)試、VCO的線性化和動(dòng)態(tài)校準(zhǔn)、8道DBS的調(diào)試和通過旋轉(zhuǎn)光柵輪進(jìn)行的頻移校準(zhǔn)測(cè)試。并介紹了在為搭建和測(cè)試本套集成反射計(jì)而開發(fā)的新穎的測(cè)試和校準(zhǔn)的平臺(tái)。本論文最后給出了利用該套反射計(jì)在EAST放電實(shí)驗(yàn)中實(shí)際測(cè)量的基本結(jié)果,包括在利用剖面反射計(jì)測(cè)量L-mode和H-mode放電時(shí)的電子密度剖面分布、臺(tái)基區(qū)演化、以及用8道DBS系統(tǒng)在L-H放電和在低雜波加熱中等實(shí)驗(yàn)測(cè)試結(jié)果,驗(yàn)證了該套反射計(jì)系統(tǒng)的測(cè)量能力。
董自上[4]（2015）在《基于數(shù)字化資源平臺(tái)的自主探究教學(xué)模式研究 ——以中職《計(jì)算機(jī)組裝與維修》課程為例》文中研究說明新課程改革實(shí)施以來,探究式教學(xué)模式受到廣大教育者的重視。中職學(xué)校計(jì)算機(jī)課程教學(xué)注重對(duì)學(xué)生的實(shí)踐創(chuàng)新能力的培養(yǎng),如何在課堂教學(xué)中開展自主探究型教學(xué)模式的實(shí)踐,發(fā)揮學(xué)生的主體性,引導(dǎo)學(xué)生開展自主探究的學(xué)習(xí),讓學(xué)生發(fā)現(xiàn)問題、解決問題并建構(gòu)知識(shí),形成積極向上的情感、態(tài)度和價(jià)值觀,成為中職計(jì)算機(jī)課程改革的重要課題。網(wǎng)絡(luò)技術(shù)的發(fā)展,職業(yè)教育的各種數(shù)字化資源平臺(tái)的發(fā)展,為中職學(xué)校教師開展自主探究教學(xué)模式的教學(xué)實(shí)踐提供了新的方法和途徑。本文運(yùn)用文獻(xiàn)資料法、實(shí)驗(yàn)研究法、問卷調(diào)查法開展研究工作,從自主探究教學(xué)模式的理論出發(fā),結(jié)合教學(xué)實(shí)際,在中職學(xué)校的《計(jì)算機(jī)組裝與維修》課程教學(xué)中,開展基于數(shù)字化資源平臺(tái)下自主探究式教學(xué)模式的實(shí)踐,從理論和實(shí)踐兩個(gè)層面進(jìn)行深入的探索研究,取得了一定的成果。首先,論文首先闡述在新課程改革的背景下,研究國(guó)內(nèi)外的自主探究教學(xué)模式的研究現(xiàn)狀,分析課題研究的意義、目的和方法。其次,闡述自主探究型教學(xué)模式的理論基礎(chǔ),自主探究學(xué)習(xí)的涵義,分析數(shù)字化資源平臺(tái)對(duì)自主探究教學(xué)的影響。通過對(duì)中職學(xué)校學(xué)生自主探究學(xué)習(xí)情況、師生對(duì)數(shù)字化資源平臺(tái)的使用現(xiàn)狀進(jìn)行調(diào)查分析,研究數(shù)字化資源平臺(tái)與自主探究學(xué)習(xí)相結(jié)合,如何充分發(fā)揮數(shù)字化資源平臺(tái)的作用,對(duì)自主探究型教學(xué)模式進(jìn)行構(gòu)建。在南京金陵中等專業(yè)學(xué)?！队?jì)算機(jī)組裝與維修》課程的教學(xué)中,開展本課題的實(shí)踐研究,包括實(shí)踐對(duì)象的選擇、實(shí)踐方案的設(shè)計(jì),過程實(shí)施和結(jié)果分析,通過實(shí)驗(yàn)班和對(duì)照班的對(duì)比研究,成績(jī)比較和調(diào)查問卷分析,驗(yàn)證本課題的研究,能較好的改變學(xué)生的學(xué)習(xí)方式,提升學(xué)生思維能力和創(chuàng)新意識(shí),有效的促進(jìn)教學(xué)。最后總結(jié)本次研究成果,對(duì)基于數(shù)字化資源平臺(tái)的自主探究教學(xué)模式存在的問題進(jìn)行反思,就課題的后續(xù)研究進(jìn)行展望。
陳欽榮[5]（2014）在《計(jì)算機(jī)組裝與維護(hù)課程教學(xué)改革探析》文中進(jìn)行了進(jìn)一步梳理隨著計(jì)算機(jī)在生產(chǎn)生活各領(lǐng)域發(fā)揮著越來越重要的作用,計(jì)算機(jī)軟硬件安裝及維護(hù)的知識(shí)和技能成為高職院校電子商務(wù)專業(yè)學(xué)生必須具備的一項(xiàng)基本素質(zhì),這樣將使學(xué)生的相關(guān)技能更好的滿足崗位要求,符合社會(huì)需要。本文根據(jù)計(jì)算機(jī)組裝與維護(hù)課程具有實(shí)踐性強(qiáng)、知識(shí)技能更新快等特點(diǎn),結(jié)合實(shí)際的教學(xué)經(jīng)驗(yàn),從教學(xué)方法、手段及考核方式等方面對(duì)該門課程提出了一些教學(xué)的改革措施。通過教學(xué)實(shí)踐,取得了較好的教學(xué)效果。
左維[6]（2013）在《計(jì)算機(jī)電源研究及故障檢測(cè)分析》文中指出隨著計(jì)算機(jī)的日新月異,計(jì)算機(jī)的電源也同樣飛速地發(fā)展。筆者本文中,我將主要介紹電源的不同版本及發(fā)展過程,并且詳細(xì)地解析一下電源輸出接口和各顏色導(dǎo)線的定義。另外,結(jié)合本人的工作經(jīng)驗(yàn)總結(jié)出一些電源的維修檢測(cè)方法,以及如今在選購(gòu)中要注意的電源的幾個(gè)重要參數(shù)。
《個(gè)人電腦》編輯部[7]（2012）在《商務(wù)?？星皢⒑?蓄勢(shì)待發(fā)》文中提出關(guān)注并熟知業(yè)界發(fā)展的讀者對(duì)于英特爾Tick-Tock（嘀嗒）,又稱鐘擺節(jié)奏肯定是耳熟能詳?？鋸堻c(diǎn)說,這個(gè)在2006年問世的戰(zhàn)略,與指導(dǎo)業(yè)界發(fā)展數(shù)十年的摩爾定律在過去幾年對(duì)于整個(gè)PC產(chǎn)業(yè)發(fā)展的影響已經(jīng)稱得上是并駕齊驅(qū)。按照這一節(jié)奏,英特爾準(zhǔn)時(shí)推出了采用22納米制造工藝,代號(hào)為IvyBridge的新一代處理器——第三代英特爾智能酷睿處理器。隨著計(jì)算平臺(tái)的更替,我們可以看到很多商用產(chǎn)品也在進(jìn)行著更新?lián)Q代。從商用辦公環(huán)境來看,IvyBridge無疑將成為未來兩年主流的商用計(jì)算平臺(tái),無論是筆記本電腦還是臺(tái)式機(jī)產(chǎn)品,都將從IvyBridge的諸多新特性中獲益。除此以外,在顯示、打印以及網(wǎng)絡(luò)技術(shù)方面,都可以看到諸多新應(yīng)用在逐步被用戶采用。為了讓您在商用產(chǎn)品采購(gòu)中有更多的參考,我們?cè)谏虅?wù)?？嗅槍?duì)計(jì)算平臺(tái)、筆記本電腦、臺(tái)式機(jī)、云計(jì)算、顯示設(shè)備、打印設(shè)備以及網(wǎng)絡(luò)的發(fā)展進(jìn)行了詳盡的介紹,希望在您制定采購(gòu)計(jì)劃時(shí)能夠有所幫助。
王丁,王欣,盧小雷,呂華威,張?jiān)?王旭[8]（2010）在《商用產(chǎn)品采購(gòu)專刊》文中指出在2009年中,我們?cè)u(píng)測(cè)了超過1400款產(chǎn)品,其中面向商業(yè)應(yīng)用環(huán)境的產(chǎn)品占到了70%以上。雖然商用產(chǎn)品表面上不如數(shù)碼產(chǎn)品那么繽紛燦爛,但是隨著2010年中很多平臺(tái)、技術(shù)的升級(jí)換代,商用產(chǎn)品也表現(xiàn)出蓬勃的換
朱夏川[9]（2010）在《基于虛擬儀器的電路板測(cè)試系統(tǒng)的研究》文中提出等離子顯示器件作為現(xiàn)在最新型的顯示器件有輕薄、時(shí)尚、層次感強(qiáng)和色彩還原性好的優(yōu)點(diǎn),特別適合于大屏幕彩色電視機(jī)。等離子顯示器件由等離子顯示屏、驅(qū)動(dòng)控制電路、信號(hào)及電源連接線和結(jié)構(gòu)件組成。電路的優(yōu)劣很大程度上決定了顯示模組品質(zhì)的優(yōu)劣,所以驅(qū)動(dòng)控制電路的制造工藝是等離子顯示器件的關(guān)鍵工藝。本文就是通過對(duì)Y驅(qū)動(dòng)電路板的功能檢查工裝的設(shè)計(jì)及研究上來優(yōu)化電路板的制造工藝。本文主要通過對(duì)電路板組件的生產(chǎn)流程的分析來挖掘制造流程的關(guān)鍵工序。通過明確電路檢查是影響電路板制造的工藝關(guān)鍵后,開發(fā)出一種新型的,低成本的電路板測(cè)試系統(tǒng)。本系統(tǒng)以LabView為核心進(jìn)行架構(gòu)。通過數(shù)據(jù)采集卡DAQ對(duì)Y板的輸出波形進(jìn)行數(shù)字化采集,數(shù)據(jù)通過PCI插槽進(jìn)入工控計(jì)算機(jī)。然后通過數(shù)據(jù)分析,還原波形并對(duì)波形判定來檢查電路組件合格與否。在外圍電路上設(shè)計(jì)了針床以方便操作和提高效率。數(shù)據(jù)采集采用8bit的采集卡,單端接地模式。電源采用模組電路的電源,提高系統(tǒng)的匹配性。
散人[10]（2008）在《樹欲靜而風(fēng)不止 關(guān)于風(fēng)道的學(xué)問探索》文中研究說明又是一個(gè)夏天。這個(gè)季節(jié)對(duì)DIYer來說都是比較痛苦的:電腦高燒不斷,散熱困難。你還是在像以前那樣打開機(jī)箱側(cè)蓋板過一個(gè)季節(jié)嗎?這個(gè)方法真的有效嗎?什么?用電風(fēng)扇對(duì)著吹?為什么不嘗試一下只聽過沒實(shí)踐過的"風(fēng)道"呢?什么?你不會(huì)?不要緊,讀完筆者的文章你就能對(duì)這個(gè)時(shí)髦的名詞有所了解了。如果你以為筆者今天要為大家介紹一大堆廠商的散熱設(shè)備那就錯(cuò)了。筆者今天要說的是綜合解決方案,套用并篡改世界上最著名解決方案的公司IBM的一句廣告詞:停止空談,開始行動(dòng),蓋上側(cè)板,組建風(fēng)道。要說風(fēng)道先要從主板構(gòu)架開始談起。
二、ATX機(jī)箱的規(guī)格介紹與選購(gòu)要點(diǎn)（論文開題報(bào)告）
（1）論文研究背景及目的
此處內(nèi)容要求：
首先簡(jiǎn)單簡(jiǎn)介論文所研究問題的基本概念和背景，再而簡(jiǎn)單明了地指出論文所要研究解決的具體問題，并提出你的論文準(zhǔn)備的觀點(diǎn)或解決方法。
寫法范例：
本文主要提出一款精簡(jiǎn)64位RISC處理器存儲(chǔ)管理單元結(jié)構(gòu)并詳細(xì)分析其設(shè)計(jì)過程。在該MMU結(jié)構(gòu)中,TLB采用叁個(gè)分離的TLB,TLB采用基于內(nèi)容查找的相聯(lián)存儲(chǔ)器并行查找,支持粗粒度為64KB和細(xì)粒度為4KB兩種頁面大小,采用多級(jí)分層頁表結(jié)構(gòu)映射地址空間,并詳細(xì)論述了四級(jí)頁表轉(zhuǎn)換過程,TLB結(jié)構(gòu)組織等。該MMU結(jié)構(gòu)將作為該處理器存儲(chǔ)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)的一個(gè)重要組成部分。
（2）本文研究方法
調(diào)查法：該方法是有目的、有系統(tǒng)的搜集有關(guān)研究對(duì)象的具體信息。
觀察法：用自己的感官和輔助工具直接觀察研究對(duì)象從而得到有關(guān)信息。
實(shí)驗(yàn)法：通過主支變革、控制研究對(duì)象來發(fā)現(xiàn)與確認(rèn)事物間的因果關(guān)系。
文獻(xiàn)研究法：通過調(diào)查文獻(xiàn)來獲得資料，從而全面的、正確的了解掌握研究方法。
實(shí)證研究法：依據(jù)現(xiàn)有的科學(xué)理論和實(shí)踐的需要提出設(shè)計(jì)。
定性分析法：對(duì)研究對(duì)象進(jìn)行“質(zhì)”的方面的研究，這個(gè)方法需要計(jì)算的數(shù)據(jù)較少。
定量分析法：通過具體的數(shù)字，使人們對(duì)研究對(duì)象的認(rèn)識(shí)進(jìn)一步精確化。
跨學(xué)科研究法：運(yùn)用多學(xué)科的理論、方法和成果從整體上對(duì)某一課題進(jìn)行研究。
功能分析法：這是社會(huì)科學(xué)用來分析社會(huì)現(xiàn)象的一種方法，從某一功能出發(fā)研究多個(gè)方面的影響。
模擬法：通過創(chuàng)設(shè)一個(gè)與原型相似的模型來間接研究原型某種特性的一種形容方法。
三、ATX機(jī)箱的規(guī)格介紹與選購(gòu)要點(diǎn)（論文提綱范文）
（1）基于水冷散熱的電腦機(jī)箱造型設(shè)計(jì)（論文提綱范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 1 緒論 |
| 1.1 研究背景 |
| 1.2 國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀 |
| 1.3 研究目的 |
| 1.4 研究方法 |
| 1.5 研究意義 |
| 1.6 研究創(chuàng)新點(diǎn) |
| 1.6.1 產(chǎn)品的迷你化 |
| 1.6.2 迷你機(jī)箱的拓展性 |
| 1.6.3 產(chǎn)品語義的可視化 |
| 1.6.4 用戶操作的防錯(cuò)設(shè)計(jì) |
| 1.6.5 同造型相結(jié)合的新的控制形式 |
| 2 有關(guān)于水冷機(jī)箱的理論基礎(chǔ) |
| 2.1 水冷的基礎(chǔ)原理 |
| 2.2 水冷的基礎(chǔ)結(jié)構(gòu) |
| 2.3 一般電腦機(jī)箱的構(gòu)成 |
| 2.4 發(fā)熱部件分析 |
| 2.4.1 中央處理器(CPU) |
| 2.4.2 顯示接口卡(GPU) |
| 2.4.3 其它發(fā)熱部件 |
| 2.5 現(xiàn)有散熱方式分析 |
| 2.5.1 風(fēng)冷散熱 |
| 2.5.2 水冷散熱 |
| 2.6 現(xiàn)有水冷散熱器介紹 |
| 2.6.1 分體式水冷 |
| 2.6.2 一體式水冷 |
| 2.7 機(jī)箱設(shè)計(jì)原則 |
| 2.7.1 保護(hù)性原則 |
| 2.7.2 兼容性原則 |
| 2.7.3 美觀性原則 |
| 2.7.4 模塊化原則 |
| 2.8 本章小結(jié) |
| 3 水冷散熱機(jī)箱造型設(shè)計(jì)調(diào)研 |
| 3.1 機(jī)箱和電腦造型 |
| 3.2 現(xiàn)有機(jī)箱概況 |
| 3.3 基于用戶需求方向的調(diào)研 |
| 3.4 基于用戶年齡和產(chǎn)品造型調(diào)研 |
| 3.5 現(xiàn)有機(jī)箱案例分析 |
| 3.6 本章小結(jié) |
| 4 水冷機(jī)箱造型設(shè)計(jì)方案實(shí)踐 |
| 4.1 目標(biāo)人群設(shè)定 |
| 4.2 水冷機(jī)箱設(shè)計(jì)方向 |
| 4.2.1 功能方向 |
| 4.2.2 形式方向 |
| 4.3 設(shè)計(jì)展開 |
| 4.3.1 整體結(jié)構(gòu)方案 |
| 4.3.2 電腦部件參考方案 |
| 4.3.3 機(jī)箱內(nèi)部布局方案 |
| 4.3.4 前期理念以及草圖方案 |
| 4.3.5 草圖方案評(píng)估 |
| 4.4 設(shè)計(jì)深化 |
| 4.4.1 CPU冷頭造型 |
| 4.4.2 顯卡水冷頭造型 |
| 4.4.3 冷排外部造型 |
| 4.4.4 其它部件造型 |
| 4.4.5 水道板結(jié)構(gòu) |
| 4.4.6 整體造型設(shè)計(jì) |
| 4.4.7 整體顏色搭配 |
| 4.5 三維表現(xiàn)以及展示 |
| 4.5.1 三維模型制作 |
| 4.5.2 三維渲染展示 |
| 4.5.3 場(chǎng)景模擬展示 |
| 4.5.4 使用效果評(píng)測(cè) |
| 5 結(jié)論與展望 |
| 5.1 結(jié)論 |
| 5.2 展望 |
| 參考文獻(xiàn) |
| 附錄 |
| 致謝 |
| 研究成果及發(fā)表的學(xué)術(shù)論文 |
| 作者和導(dǎo)師簡(jiǎn)介 |
| 附件 |
（2）靜電紡絲設(shè)備設(shè)計(jì)與納米纖維膜的制備（論文提綱范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第1章 緒論 |
| 1.1 靜電紡絲的發(fā)展歷史 |
| 1.2 納米纖維膜 |
| 1.2.1 納米纖維膜簡(jiǎn)介 |
| 1.2.2 靜電紡絲制備納米纖維膜 |
| 1.3 國(guó)內(nèi)外靜電紡絲設(shè)備發(fā)展現(xiàn)狀 |
| 1.4 本文研究意義和研究?jī)?nèi)容 |
| 第2章 高壓遠(yuǎn)場(chǎng)靜電紡絲概述 |
| 2.1 高壓遠(yuǎn)場(chǎng)靜電紡絲裝置的基本組成 |
| 2.1.1 電源 |
| 2.1.2 噴絲頭 |
| 2.1.3 接收裝置 |
| 2.2 靜電紡絲的紡絲液分類 |
| 2.3 靜電紡絲過程及其原理 |
| 第3章 機(jī)械設(shè)計(jì) |
| 3.1 設(shè)計(jì)要求和設(shè)計(jì)思路 |
| 3.1.1 設(shè)計(jì)要求 |
| 3.1.2 設(shè)計(jì)思路 |
| 3.2 主要模塊機(jī)械設(shè)計(jì) |
| 3.2.1 X軸運(yùn)動(dòng)模塊機(jī)械設(shè)計(jì) |
| 3.2.2 Z軸運(yùn)動(dòng)模塊機(jī)械設(shè)計(jì) |
| 3.2.3 恒流注射泵模塊機(jī)械設(shè)計(jì) |
| 3.2.4 收集裝置模塊機(jī)械設(shè)計(jì) |
| 3.2.4.1 轉(zhuǎn)筒收集裝置 |
| 3.2.4.2 平板收集裝置 |
| 3.3 機(jī)箱與其余構(gòu)件機(jī)械設(shè)計(jì) |
| 第4章 硬件設(shè)計(jì) |
| 4.1 設(shè)計(jì)要求和設(shè)計(jì)思路 |
| 4.1.1 設(shè)計(jì)要求 |
| 4.1.2 設(shè)計(jì)思路 |
| 4.2 單片機(jī)平臺(tái)介紹 |
| 4.2.1 Arduino開源平臺(tái)介紹 |
| 4.2.2 Arduino Mega 2560電路原理圖 |
| 4.2.3 電路板繪制 |
| 4.3 按鍵和LCD顯示屏模塊 |
| 4.4 其它電器元件選型與布線 |
| 4.4.1 直流高壓電源選型 |
| 4.4.2 電源與電機(jī)驅(qū)動(dòng)器選型 |
| 4.4.3 傳感器選型 |
| 4.4.4 所有電子元器件布線 |
| 4.5 機(jī)箱熱仿真分析 |
| 第5章 程序設(shè)計(jì) |
| 5.1 設(shè)計(jì)要求和設(shè)計(jì)思路 |
| 5.1.1 設(shè)計(jì)要求 |
| 5.1.2 設(shè)計(jì)思路 |
| 5.2 程序流程設(shè)計(jì) |
| 5.3 主要代碼 |
| 第6章 制備P(VDF-TrFE)摻雜PZT壓電陶瓷納米纖維膜 |
| 6.1 聚偏氟乙烯三氟乙烯與鋯鈦酸鉛壓電陶瓷簡(jiǎn)介 |
| 6.1.1 聚偏氟乙烯三氟乙烯 |
| 6.1.2 鋯鈦酸鉛壓電陶瓷 |
| 6.2 實(shí)驗(yàn)參數(shù) |
| 6.3 P(VDF-TrFE)摻雜PZT壓電陶瓷納米纖維膜的形貌情況 |
| 6.4 P(VDF-TrFE)摻雜PZT壓電陶瓷納米纖維膜的拉伸力學(xué)性能 |
| 6.5 P(VDF-TrFE)摻雜PZT壓電陶瓷納米纖維膜的介電特性 |
| 6.6 P(VDF-TrFE)摻雜PZT壓電陶瓷納米纖維膜的壓電特性 |
| 結(jié)論與展望 |
| 參考文獻(xiàn) |
| 攻讀碩士學(xué)位期間發(fā)表的科研成果 |
| 發(fā)表論文 |
| 發(fā)明專利授權(quán) |
| 致謝 |
（3）EAST托卡馬克上的先進(jìn)集成微波反射計(jì)診斷系統(tǒng)（論文提綱范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第1章 引言 |
| 1.1 聚變能與托卡馬克 |
| 1.1.1 世界和中國(guó)的能源格局 |
| 1.1.2 核聚變能 |
| 1.1.3 磁約束核聚變與托卡馬克 |
| 1.1.4 ITER托卡馬克及ITER計(jì)劃 |
| 1.1.5 我國(guó)聚變及國(guó)內(nèi)現(xiàn)有的托卡馬克 |
| 1.2 EAST托卡馬克 |
| 1.2.1 EAST的基本特征和參數(shù) |
| 1.2.2 EAST上的滲斷系統(tǒng) |
| 1.2.3 密度剖面和等離子體極向旋轉(zhuǎn)以及密度漲落、湍流測(cè)量 |
| 1.3 文章總結(jié) |
| 1.3.1 本論文研究工作總結(jié) |
| 1.3.2 本論文的內(nèi)容安排 |
| 第2章 反射計(jì)的理論原理和技術(shù)方案 |
| 2.1 等離子體中的電磁波 |
| 2.2 反射計(jì)診斷原理 |
| 2.2.1 剖面反射計(jì)測(cè)量托卡馬克等離子體的密度剖面原理和分類 |
| 2.2.2 剖面反射計(jì)測(cè)量精度、誤差來源分析以及減少誤差的方法 |
| 2.2.3 多普勒背向散射儀徑向電場(chǎng)以及粒子輸運(yùn)等測(cè)量原理 |
| 2.2.4 多普勒背向散射儀系統(tǒng)的測(cè)量精度和誤差分析 |
| 2.3 EAST先進(jìn)綜合反射計(jì)的技術(shù)方案選擇 |
| 2.3.1 剖面反射計(jì)的技術(shù)實(shí)現(xiàn)方案選擇 |
| 2.3.2 多普勒背向散射儀的技術(shù)方案選擇 |
| 2.4 本章小結(jié) |
| 第3章 數(shù)據(jù)處理和分析方法以及數(shù)值模擬 |
| 3.1 從中頻信號(hào)中提取信息的方法 |
| 3.1.1 外差正交測(cè)量系統(tǒng)中的IQ中頻信號(hào)的信息提取 |
| 3.1.2 零差系統(tǒng)中的中頻IF信號(hào)中的信息提取 |
| 3.2 反射計(jì)系統(tǒng)數(shù)據(jù)處理中的譜分析方法 |
| 3.3 等離子體密度剖面反演 |
| 3.3.1 O-mode極化的測(cè)量剖面反演 |
| 3.3.2 X-mode極化的測(cè)量剖面反演 |
| 3.3.3 等離子體完整電子密度剖面反演 |
| 3.4 剖面反射計(jì)中其他的注意問題 |
| 3.4.1 等離子體密度漲落對(duì)密度剖面測(cè)量的影響 |
| 3.4.2 等離子體高溫相對(duì)論效應(yīng)對(duì)密度剖面測(cè)量的影響 |
| 3.4.3 縱向磁場(chǎng)誤差場(chǎng)對(duì)密度剖面測(cè)量的影響 |
| 3.4.4 剖面反射計(jì)中的多普勒效應(yīng) |
| 3.4.5 反射計(jì)的極化角耦合(Pitch Angle) |
| 3.4.6 等離子體密度零點(diǎn)位置的判斷 |
| 3.5 多普勒反射計(jì)中的數(shù)據(jù)分析方法和注意事項(xiàng) |
| 3.5.0 從中頻復(fù)信號(hào)中求多普勒頻移的幾種方法 |
| 3.5.1 SOL區(qū)對(duì)多普勒反射計(jì)的光路影響 |
| 3.5.2 多普勒系統(tǒng)中相關(guān)分析時(shí)的采樣時(shí)鐘同步問題 |
| 3.6 反射計(jì)系統(tǒng)中的自動(dòng)化實(shí)時(shí)測(cè)量方法 |
| 3.6.1 等離子體密度零點(diǎn)位置自動(dòng)化實(shí)時(shí)測(cè)量 |
| 3.6.2 用剖面反射計(jì)進(jìn)行臺(tái)基區(qū)高度、斜率的實(shí)時(shí)測(cè)量 |
| 3.6.3 用多普勒背向散射儀對(duì)等離子體極向旋轉(zhuǎn)速度剖面實(shí)時(shí)測(cè)量 |
| 3.7 本章小結(jié) |
| 第4章 EAST上的先進(jìn)集成反射計(jì)的搭建和測(cè)試 |
| 4.1 集成準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng) |
| 4.1.1 準(zhǔn)光學(xué)前端 |
| 4.1.2 波導(dǎo)傳輸線 |
| 4.1.3 基模波導(dǎo)喇叭和過模皺褶波導(dǎo)的耦合 |
| 4.1.4 準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)的測(cè)試 |
| 4.1.5 準(zhǔn)光學(xué)系統(tǒng)中的保護(hù)措施 |
| 4.2 電子學(xué)系統(tǒng) |
| 4.2.1 剖面反射計(jì)電子學(xué)系統(tǒng) |
| 4.2.2 8道多普勒背向散射儀電子學(xué)系統(tǒng) |
| 4.3 其他配套輔助系統(tǒng) |
| 4.3.1 高速數(shù)據(jù)流盤采集系統(tǒng) |
| 4.3.2 數(shù)據(jù)存儲(chǔ)FTP服務(wù)器 |
| 4.3.3 電源濾波和防浪涌系統(tǒng) |
| 4.4 平臺(tái)測(cè)試和校準(zhǔn)系統(tǒng)的研制 |
| 4.4.1 剖面反射計(jì)中VCO線性化與動(dòng)態(tài)校準(zhǔn) |
| 4.4.2 剖面反射計(jì)系統(tǒng)的中頻降頻的方案對(duì)比 |
| 4.4.3 8道DBS輸出增益和直流偏置的調(diào)節(jié) |
| 4.4.4 8道DBS一次混頻IF信號(hào)的濾波器調(diào)試 |
| 4.4.5 8道DBS多普勒頻移測(cè)試和校準(zhǔn) |
| 4.5 本章小結(jié) |
| 第5章 反射計(jì)診斷系統(tǒng)在EAST的初步實(shí)驗(yàn)結(jié)果 |
| 5.1 剖面反射計(jì)系統(tǒng)的初步測(cè)量結(jié)果 |
| 5.1.1 L-H模式放電中的電子密度剖面測(cè)量 |
| 5.1.2 利用X-mode的數(shù)據(jù)進(jìn)行等離子體的密度零點(diǎn)判斷 |
| 5.1.3 L-H約束模轉(zhuǎn)換時(shí)臺(tái)基區(qū)高度和斜率的變化 |
| 5.2 8道DBS系統(tǒng)的初步測(cè)量結(jié)果 |
| 5.2.1 8道DBS在等離子體L-H模放電中測(cè)量結(jié)果 |
| 5.2.2 LHCD功率調(diào)制加熱下極向旋轉(zhuǎn)速度的變化 |
| 5.2.3 ELMs爆發(fā)期間多普勒頻移的變化 |
| 5.2.4 ELMs緩解抑制時(shí)準(zhǔn)相干模QCM研究 |
| 5.2.5 利用多普勒反射計(jì)觀察到的其他湍流模式 |
| 5.3 本章小結(jié) |
| 第6章 總結(jié)與展望 |
| 6.1 論文研究工作總結(jié) |
| 6.1.1 先進(jìn)集成反射計(jì)準(zhǔn)光學(xué)收發(fā)前端研制 |
| 6.1.2 剖面反射計(jì)電子學(xué)系統(tǒng)的研制 |
| 6.1.3 8道多普勒背向散射儀的電子學(xué)系統(tǒng) |
| 6.1.4 其他輔助系統(tǒng)的搭建 |
| 6.1.5 先進(jìn)集成反射計(jì)系統(tǒng)在EAST實(shí)驗(yàn)中的測(cè)量結(jié)果 |
| 6.2 未來研究工作展望 |
| 6.2.1 密度漲落對(duì)電子密度剖面測(cè)量的影響的數(shù)值模擬 |
| 6.2.2 減少準(zhǔn)光學(xué)傳輸系統(tǒng)中的反射 |
| 6.2.3 湍流模式和機(jī)理的研究 |
| 6.2.4 湍流的波數(shù)譜的絕對(duì)定標(biāo)測(cè)量 |
| 6.2.5 極化方案更改 |
| 6.2.6 改用一次IQ混頻來進(jìn)行動(dòng)態(tài)校準(zhǔn) |
| 6.2.7 利用FPGA技術(shù)實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)測(cè)量和反饋控制 |
| 6.2.8 電子學(xué)機(jī)箱和電源濾波改造 |
| 附錄A 基模高斯光學(xué)理論 |
| 附錄B 高斯光束薄透鏡變換理論 |
| 附錄C DBS準(zhǔn)光學(xué)前端設(shè)計(jì) |
| 附錄D 主要器件的參數(shù) |
| 參考文獻(xiàn) |
| 個(gè)人簡(jiǎn)歷 |
| 在讀期間發(fā)表的學(xué)術(shù)論文與取得的其他研究成果 |
| 致謝 |
（4）基于數(shù)字化資源平臺(tái)的自主探究教學(xué)模式研究 ——以中職《計(jì)算機(jī)組裝與維修》課程為例（論文提綱范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第1章 引言 |
| 1.1 課題研究背景 |
| 1.2 國(guó)內(nèi)外的研究概況 |
| 1.2.1 國(guó)外現(xiàn)狀 |
| 1.2.2 國(guó)內(nèi)現(xiàn)狀 |
| 1.3 課題研究的問題 |
| 1.4 課題研究的意義 |
| 1.5 課題研究思路與方法 |
| 第2章 基于數(shù)字化資源平臺(tái)下自主探究教學(xué)模式理論基礎(chǔ) |
| 2.1 教學(xué)模式的內(nèi)涵及相關(guān)的理論 |
| 2.1.1 發(fā)現(xiàn)學(xué)習(xí)理論 |
| 2.1.2 建構(gòu)主義學(xué)習(xí)理論 |
| 2.1.3 人本主義學(xué)習(xí)理論 |
| 2.2 自主探究學(xué)習(xí) |
| 第3章 中職學(xué)?！队?jì)算機(jī)組裝與維修》課程教學(xué)現(xiàn)狀分析 |
| 3.1 中職學(xué)校學(xué)生的學(xué)習(xí)現(xiàn)狀和特點(diǎn) |
| 3.2 中職學(xué)校《計(jì)算機(jī)組裝與維修》課程目標(biāo)及特點(diǎn) |
| 3.3 中職學(xué)?！队?jì)算機(jī)組裝與維修》課程的學(xué)習(xí)現(xiàn)狀 |
| 3.4 數(shù)字化資源平臺(tái)的使用情況 |
| 3.4.1 數(shù)字化資源平臺(tái)的發(fā)展現(xiàn)狀 |
| 3.4.2 數(shù)字化資源平臺(tái)在中職學(xué)校的使用情況調(diào)查分析 |
| 3.4.3 數(shù)字化資源平臺(tái)在中職計(jì)算機(jī)類課程教學(xué)中的使用分析 |
| 3.4.4 數(shù)字化資源平臺(tái)對(duì)自主探究學(xué)習(xí)的影響 |
| 3.4.5 數(shù)字化資源平臺(tái)的選擇 |
| 第4章 基于數(shù)字化資源平臺(tái)自主探究教學(xué)模式的構(gòu)建 |
| 4.1 中職《計(jì)算機(jī)組裝與維修》課程開展自主探究教學(xué)模式可行性分析 |
| 4.2 基于數(shù)字化資源平臺(tái)的自主探究型教學(xué)模式的設(shè)計(jì)和分析 |
| 第5章 基于數(shù)字化資源平臺(tái)下自主探究教學(xué)模式的實(shí)踐與應(yīng)用 |
| 5.1 教學(xué)實(shí)踐的方案設(shè)計(jì) |
| 5.2 教學(xué)實(shí)踐的案例分析 |
| 5.3 教學(xué)實(shí)踐結(jié)果分析 |
| 第6章 基于數(shù)字化資源平臺(tái)下自主探究教學(xué)模式的結(jié)論和展望 |
| 6.1 基于數(shù)字化資源平臺(tái)下自主探究教學(xué)模式的研究結(jié)論 |
| 6.2 研究存在的問題 |
| 6.3 研究展望 |
| 附錄A：學(xué)生調(diào)查問卷 |
| 附錄B：教師調(diào)查問卷 |
| 附錄C：信息技術(shù)數(shù)字化教學(xué)資源用戶需求問卷(學(xué)生卷) |
| 附錄D：信息技術(shù)數(shù)字化教學(xué)資源用戶需求問卷(教師卷) |
| 附錄E：實(shí)驗(yàn)班《計(jì)算機(jī)組裝與維修》課程學(xué)習(xí)的情況問卷調(diào)查 |
| 參考文獻(xiàn) |
| 致謝語 |
（5）計(jì)算機(jī)組裝與維護(hù)課程教學(xué)改革探析（論文提綱范文）
| 引言 |
| 一、課程教學(xué)目標(biāo)和特點(diǎn) |
| (一)課程教學(xué)目標(biāo) |
| (二)課程特點(diǎn) |
| 二、教學(xué)過程存在的問題 |
| (一)理論知識(shí)多,教材內(nèi)容滯后于計(jì)算機(jī)新技術(shù)、新產(chǎn)品 |
| (二)學(xué)生掌握的硬件原理基礎(chǔ)較差 |
| (三)實(shí)踐環(huán)節(jié)少且薄弱 |
| (四)學(xué)生對(duì)課程的重要性、必要性認(rèn)識(shí)不夠,學(xué)習(xí)主動(dòng)性、積極性差 |
| 三、課程教學(xué)改革的思路 |
| (一)精選教材,合理安排教學(xué)內(nèi)容 |
| 1. 教學(xué)內(nèi)容的選擇 |
| 2. 用新技術(shù)及時(shí)充實(shí)教學(xué)內(nèi)容 |
| 3. 強(qiáng)化實(shí)踐教學(xué) |
| (二)采用靈活多樣的教學(xué)方法,提高學(xué)生學(xué)習(xí)的興趣 |
| 1. 計(jì)算機(jī)部件展示法 |
| 2. 模塊化教學(xué)法 |
| 3. 虛擬機(jī)軟件在教學(xué)中應(yīng)用 |
| (三)利用現(xiàn)代化教學(xué)手段,提高教學(xué)效率 |
| 1. 利用多媒體教學(xué)視頻演示,增強(qiáng)教學(xué)的直觀性 |
| 2. 將課堂延伸到課外,增強(qiáng)教學(xué)的實(shí)踐性 |
| 四、采用科學(xué)化地考核方式,做到公平公正 |
| 五、結(jié)語 |
（9）基于虛擬儀器的電路板測(cè)試系統(tǒng)的研究（論文提綱范文）
| 摘要 |
| ABSTRACT |
| 第一章 緒論 |
| 1.1 彩色PDP技術(shù)概述 |
| 1.2 AC-PDP電路系統(tǒng)概述 |
| 1.3 電路板生產(chǎn)工藝流程 |
| 1.4 電路板測(cè)試系統(tǒng)的發(fā)展現(xiàn)狀 |
| 1.5 本課題的背景、意義和任務(wù) |
| 1.6 本章小結(jié) |
| 第二章 基于虛擬儀器的電路板測(cè)試系統(tǒng)的總體研究 |
| 2.1 電路檢測(cè)工藝概覽 |
| 2.1.1 實(shí)用檢查 |
| 2.1.2 在線測(cè)試 |
| 2.1.3 功能測(cè)試 |
| 2.2 虛擬儀器技術(shù) |
| 2.2.1 虛擬儀器技術(shù)優(yōu)點(diǎn) |
| 2.2.2 虛擬儀器的構(gòu)成 |
| 2.2.3 虛擬儀器系統(tǒng)的開發(fā) |
| 2.3 整體檢測(cè)方案設(shè)計(jì) |
| 2.3.1 PDP模組Y板電路通道分析 |
| 2.3.2 總體方案設(shè)計(jì) |
| 2.4 本章小結(jié) |
| 第三章 基于虛擬儀器的電路板測(cè)試系統(tǒng)的硬件研究 |
| 3.1 電路整體系統(tǒng) |
| 3.1.1 工控計(jì)算機(jī) |
| 3.1.2 數(shù)據(jù)采集卡 |
| 3.1.3 電壓探頭 |
| 3.1.4 整體電路構(gòu)成和接口設(shè)計(jì) |
| 3.2 數(shù)據(jù)采集卡接入電路的配置 |
| 3.3 測(cè)試針床電路及測(cè)試點(diǎn)設(shè)計(jì) |
| 3.3.1 能量控制信號(hào)特征分析及連接方式設(shè)計(jì) |
| 3.3.2 電源板與Y板連線的設(shè)計(jì) |
| 3.3.3 電源板與邏輯板的連線設(shè)計(jì) |
| 3.3.4 邏輯板到Y(jié)板的連線設(shè)計(jì) |
| 3.3.5 Y板到掃描模塊的連線設(shè)計(jì) |
| 3.4 掃描模塊電路設(shè)計(jì) |
| 3.4.1 掃描芯片功能 |
| 3.4.2 掃描模塊電路 |
| 3.5 本章小結(jié) |
| 第四章 基于虛擬儀器的電路板測(cè)試系統(tǒng)的軟件研究 |
| 4.1 軟件整體架構(gòu) |
| 4.1.1 LabView開發(fā)平臺(tái) |
| 4.1.2 軟件結(jié)構(gòu)分析 |
| 4.2 驅(qū)動(dòng)程序設(shè)計(jì) |
| 4.2.1 數(shù)據(jù)采集流程 |
| 4.2.2 采樣率分析 |
| 4.2.3 驅(qū)動(dòng)程序設(shè)計(jì) |
| 4.3 電壓波形分析程序 |
| 4.3.1 電壓波形分析需求 |
| 4.3.2 電壓波形分析程序 |
| 4.4 本章小結(jié) |
| 第五章 總結(jié)與展望 |
| 5.1 檢查機(jī)運(yùn)行情況 |
| 5.2 改進(jìn)意見 |
| 5.2.1 增加程控電源 |
| 5.2.2 增加放電電路 |
| 5.3 電路板測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展展望 |
| 5.4 本章小結(jié) |
| 致謝 |
| 參考文獻(xiàn) |
四、ATX機(jī)箱的規(guī)格介紹與選購(gòu)要點(diǎn)（論文參考文獻(xiàn)）
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- [10]樹欲靜而風(fēng)不止 關(guān)于風(fēng)道的學(xué)問探索[J]. 散人. 大眾硬件, 2008(08)
標(biāo)簽：計(jì)算機(jī)組裝與維修論文; 電腦機(jī)箱論文; 靜電紡絲論文; 電腦論文;